设备型号：Hitachi S-4800

设备参数

扫描电镜二次电子图像分辨率最高可达2.0nm(1kV)，1.4nm(1kV，减速模式)；配备半导体背散射探头，背散射电子图像分辨率为3.5nm（30KV），灵敏度达0.1Z；加速电压0.5～30kV，0.1kV/步；放大倍率为×20~×500，000；可处理样品最大直径为 50 mm ，高度 25 mm 。配备 50mm 2 SDD硅漂移晶体X射线能谱探测器，可分析元素范围为Be4-U92；分辨率为：MnK优于12eV(计数率为20000cps)，CK优于60eV(计数率为20000cps)，FK优于65eV（计数率为20000cps)，平均计数率可达1000～50000CPS，平均元素定量误差小于0.5％。

主要功能

场发射扫描电子显微镜，广泛用于非金属材料、金属材料、高分子材料、半导体材料、能源与电子材料、化工原料、地质矿物、商品检验、产品生产质量控制、宝石鉴定、考古和文物鉴定及公安刑侦物证分析。可以观察和检测非均相有机材料、无机材料及在上述微米、纳米级样品的表面特征。该仪器的最大特点是具备超高分辨扫描图像观察能力，尤其是采用最新数字化图像处理技术，提供高倍数、高分辨扫描图像，并能即时打印或存盘输出，是研究材料表面形貌、组织结构与性能关系的最有效仪器。

纳米银粉30万倍

铝合金400倍