设备型号： AXS  D8 ADVANCE

设备参数：Theta/theta立式测角仪；2Theta角度范围：-110°~168°；

       角度精度：0.0001度；Cu靶，标准尺寸光管； 探测器：林克斯阵列探测器；

       仪器尺寸： 1868mm × 1300mm × 1135mm ；重量： 770kg ；功率：6.5kW

主要功能

1.   常规衍射：主要用于金属、陶瓷、水泥等晶体材料的物相测试，也可用于高分子材料的结晶度测试，结合专用的EVA TOPAS等专用软件，可精确分析材料的结构、晶粒度、应力等信息；

2.   薄膜衍射：采用掠入射结合林克斯探测器OD方式，测试薄膜样品材料的微米级表层的结构信息；

3.   残余应力测试：主要针对材料表面的第I类残余应力，采用同倾法通过测试材料高角度的衍射曲线，结合专用LEPTOS软件，计算材料的残余应力；

4.   小角衍射：主要针对纳米介孔材料进行小角度测试，分析材料的介孔结构信息；

5.   小角散射和广角散射：利用旋转样品台，采用毛细管法，结合专用NANOFIT软件，可分析纳米材料的形态和粒度分布等信息。